电子天平校准和测量能力

JJF1847-2020《电子天平校准规范》，根据电子天平不确定度测量模型，分析影响其不确定度的因素，通过控制各变量，选择实验室稳定的电子天平作为被测对象，评定点选择覆盖区间的上限、中值和下限，形成实验室最优不确定度。对评定的不同精度、不同测量范围的电子天平不确定度进行归纳，使用区间不确定度来表达实验室在某个测量范围内的能力，形成该实验室的电子天平校准和测量能力（CMC）。

目前，在生物制药、环境监测等有关行业，日常大量使用微量电子天平（万分之一精度及以上），无论是FDA还是EP，都有对药物用天平的称量过程、称量数据审查的具体要求，中国制药企业为了满足以上要求，大量需要电子天平的校准数据，在称量过程中，更关注某些称量点的校准值及不确定度已经成为一种常态。

然而，现有的计量监督体系是以“检定”为主，电子天平检定规程主要评价不同称量范围的误差是否超出最大允许误差来进行符合性判断，即判定仪器是否“合格”.即便是进行校准，各级校准实验室在做电子天平校准时均参照JJG1036-2008《电子天平检定规程》[]进行，在执行过程中，不同实验室都制定了各自的校准方法，这难免造成方法标准不统一的情况，影响后续的评价，因此不能精准满足客户需求。